X光測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。
X光測厚儀的特點：
1、測量通過電腦軟件進行操作，方便直觀；
2、除平板形外，還可以測量圓形、棒形（細線）等各種形狀；
3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層；
4、可對測量數據進行統計處理，并能輸入電腦進行共同管理；
5、可制作非破壞式膜厚儀的標準板；
6、可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度；
7、本膜厚儀采用全對話式操作。因此，只要依照測量條件來進行設定就可測量，非常簡單；
8、由于可儲存不同的測量情況，不必進行重復設定；每種測量情況可儲存多個數據；
9、可設定四層鍍層，而每一層均可進行統計處理。電位圖形可通過設定光標自動計算多層鎳電位差及每層鎳的厚度，可方便的作成各種格式的電子文檔并打印。制作測量報告易學，易懂；
10、每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動標準的選擇，均可由微處理器自動判斷、設定；
11、標準板校正值的計算和設定可自動進行；
12、由于分解速度差距分得很細，因此在保證測量精度的同時可大量節省測量時間；
13、可分離測量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴散（合金）層；
14、測量臺是利用條形彈簧方式，使操作方便簡單。
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