超聲波膜厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
涂層測厚儀：涂層測厚儀有渦流法涂層測厚儀和磁性法涂層測厚儀，本站有兩種涂層測厚儀的工作原理，本文不再贅述。所以不論是采用超聲波還是磁性法、渦流法的測厚儀都是可以對物體表面的涂層進行測量的，而且都是通過表面探頭對物體進行厚度測量，即超聲波膜厚儀與涂層測厚儀在某種程度上來說，是一致的。可事實上來說，超聲波膜厚儀與涂層測厚儀的區別還是很大的，它們的區別如下：
1、超聲波膜厚儀探頭需要使用合適的耦合劑，以及是適量的耦合劑；而涂層測厚儀探頭在使用過程中是不需要使用耦合劑的。
2、超聲波膜厚儀是使用超聲波對物體厚度進行測量，需要選擇合適的聲速；而涂層測厚儀不論是磁性法還是渦流法測厚儀都不需要選擇聲速。
3、超聲波膜厚儀與涂層測厚儀的工作原理不同。
4、超聲波膜厚儀在測量涂層厚度時，該涂層為單一化學組成的涂層（方便選擇聲速），而涂層測厚儀在測量涂層厚度時，需要注意基體性質（Fe和NFe基體），而且對涂層的電性質有一定的要求。
5、超聲波膜厚儀的測量范圍要比涂層測厚儀更廣，涂層測厚儀的測量范圍一般在0-1250μm之間。
6、超聲波膜厚儀一般國內較少生產，且價格較高，而涂層測厚儀相對來說國內有很多廠家生產，且大多數價格較低。
盡管超聲波膜厚儀與涂層測厚儀在測量物體涂層厚度時，都是使用探頭測量、都對物體表面的粗糙度有一定的要求、都需要在測量之前進行儀器校準等等相同之處，但兩者的本質和很多使用方法上還是有不同的。在進行物體涂層厚度的測量時，涂層測厚儀的使用顯得更為簡單，性價比也較高，能夠滿足大部分物體涂層厚度的測量，而且涂層測厚儀精度也較高，無論是操作還是校準速度都快。整體上來說，超聲波膜厚儀與涂層測厚儀有相同點也有很大的區別。
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