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            鍍層測厚儀維修

            簡要描述:鍍層測厚儀維修專業維修XRF-2000韓國測厚儀(Micro Pioneer),更換X光射線管,維修準直器,維護高壓包,標準片建檔,電腦軟件升級等。瑞思遠科技憑借多年的儀器銷售經驗及廣大的客戶群特設儀器設備工程部,有多名具有豐富經驗 、職業道德良好的高級儀器維修工程師,竭力為廣大的用戶提供儀器設備的維修、保養。

            • 產品型號:XRF-2000
            • 廠商性質:代理商
            • 更新時間:2023-03-15
            • 訪  問  量:1793
            詳情介紹

            鍍層測厚儀維修專業維修XRF-2000韓國測厚儀(Micro Pioneer

            鍍層測厚儀維修專業維修鍍層測厚儀XRF-2000-H

            專業維修鍍層測厚儀XRF-2000-L

            專業維修鍍層測厚儀XRF-2000-PCB

            專業維修 鍍層測厚儀 CMI900系列

            專業維修鍍層測厚儀 X-Strata920系列

            專業維修鍍層測厚儀 COMPACT Eco系列

            專業維修鍍層測厚儀 MAXXI系列

             

            更換X光射線管,維修準直器,維護高壓包,標準片建檔,電腦軟件升級等。

            瑞思遠科技憑借多年的儀器銷售經驗及廣大的客戶群特設儀器設備工程部,有多名具有豐富經驗 、職業道德良好的高級儀器維修工程師,竭力為廣大的用戶提供儀器設備的維修、保養。我們以保證質量、價格合理、快捷交貨的服務宗旨,熱情靈活的服務方式,贏得了廣大用戶的信任和好評。歡迎更多用戶與我們達成合作。

             

            標準片建檔

             

            產品介紹

            X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。 

            XRF-2000 系列分為以下叁種: 

            1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。 

            2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。 

            3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。  

             

            應用

            測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。  

             

            行業

            五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業、電鍍類等。

             

            特色

            非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。

            可測量高達六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時分析多種元素。

            相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告。

            全系列*設計樣品與光徑自動對準系統。

            標準配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。

            準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。 

            移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差。 

            *2D與3D或任意位置表面量測分析。

            雷射對焦,搭配彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

            標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。

            光學2 0X 影像放大功能,更能精確對位。 

            單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。

            優於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的優勢。 

            儀器正常使用保固期一年,強大的專業技術支援及良好的售后服務。

            測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

             

            韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號

            Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀

            是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能,

            其物點為:高分辨率,固態探測器; 可分析超薄樣品

            分析有害物質,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用;

            可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;

            電鍍溶液分析;

            定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規則形狀;

            貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);

            自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;

            性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

            儀器尺寸:W610mmD670mmH490mm, 重量:75Kg(net)  

             

            測厚儀,膜厚儀,X射線,XRF,韓國,微先鋒,X熒光,鍍層



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